manbetx网页版手机登录|主頁(欢迎您)

简介

飞纳 Phenom ParticleX 增材制造金属粉末全面评估系统 以台式扫描电镜和能谱仪为硬件基础,可以全自动对颗粒或杂质进行快速识别、分析和分类统计,为客户的研发以及生产提供快速、准确和可靠的定量数据支持。

在增材制造中,粉末的尺寸、形状和化学性能对于粉末床的行成、熔池和微观均质性可能会产生重大影响。激光粒度仪虽然可以检验粉末粒度和形状,但无法自动检测和分析杂质颗粒。

Phenom ParticleX 专为工业环境使用而开发,可进行所有这些工作,并可生成标准报告,显示尺寸和形状分布以及识别污染颗粒。

同时具备纳米级分辨率成像功能,分辨率为 10 nm,可以对断口表面、单个颗粒和表 面缺陷(如气孔、夹杂物和微裂纹)进行高分辨率成像。

下载规格表

规格参数

 

Phenom ParticleX AM

光学放大

3 - 16 X

电子光学放大

160 - 200,000 X

分辨率

优于 10 nm

数字放大

Max. 12 X

光学导航相机

彩色

加速电压

5 kV - 20 kV 连续可调

真空模式

高分辨率模式

降低核电效应模式

高真空模式

探测器

背散射电子探测器

二次电子探测器 (选配)

能谱探测器

  下载 Particle X AM 手册

 

展示

案例分析

manbetx网页版手机登录(www.ytlysh.com)是亚洲十大自主品牌游戏平台之一,manbetx网页版手机登录合法注册网站,专注用户体验,给您一个完美游戏体验。